Сотрудникам Международного исследовательского института интеллектуальных материалов Южного федерального университета (МИИ ИМ ЮФУ) удалось разработать не имеющий мировых аналогов метод неразрушающей диагностики параметров 3D локальной атомной и электронной структур материалов без дальнего порядка с точностью вплоть до 1 пикометра (10-12 м). В настоящее время этот метод успешно развивается для применения в реальных технологических условиях, в том числе с высоким временным разрешением вплоть до фемтосекундного диапазона (10-15 секунды).
Сейчас ЮФУ стабильно занимает первое место среди российских научно-образовательных организаций по эффективности использования ведущих европейских установок мега-класса в области фотонных наук: ESRF (Европейского центра синхротронных исследований) и XFEL (Рентгеновского лазера на свободных электронах). Выигрыш заявок сотрудников ЮФУ на проведение экспериментов в ESRF и XFEL эквивалентен дополнительному привлечению ЮФУ ежегодно свыше миллиона евро на уникальные исследования мирового уровня.
По данным Scopus, Южный федеральный университет занимает третье в мире место по количеству научных публикаций, посвящённых работе на инфраструктуре мега-сайенс в области фотонных наук. Это показатель высокого мирового уровня научной школы ЮФУ в области современных спектральных методик диагностики материалов XANES.