Сотрудники НИЯУ МИФИ приняли участие в Школе молодых ученых Международного форума «Микроэлектроника – 2019».
Ее задача - привлечение в науку о микроэлектронике талантливой молодежи, обсуждение важнейших проблем современной микроэлектроники, обмен новейшей научной информацией.
Аспирант ИНТЭЛ НИЯУ МИФИ Никита Куликов представлял доклад «Поверхностные дефекты образования в транзисторе при облучении гамма-лучами с низкой мощностью дозы». Ученый рассказал о своем участии в работе школы:
https://mephi.ru/content/news/1810/130965/
Подписывайтесь на нас в Инстаграм: https://www.instagram.com/mephi_official/
#mephi #мифи
Источник: https://vk.com/mephi_official?w=wall-69589815_12869