Ученые НИЯУ МИФИ приняли участие в международном симпозиуме по физике излучения релятивистских электронов RREPS 2019, организованном при участии международной лаборатории «Излучение релятивистских частиц» университета.
Участники обсудили источники излучения, диагностику пучков заряженных частиц и пучков закрученных частиц (с орбитальным угловым моментом OAM beams, twisted beams).
Подробнее https://mephi.ru/content/news/1810/131024/
Подписывайтесь на нас в Инстаграм: https://www.instagram.com/mephi_official/
#mephi #мифи
Источник: https://vk.com/mephi_official?w=wall-69589815_12968
